Вакансия № 28079928 добавлена в базу данных сайта Работа в Москве и Московской области (МО, Подмосковье): Пятница, 11 октября 2024 года.
Дата обновления вакансии № 28079928 на сайте Работа в Москве и Московской области (МО, Подмосковье): Воскресенье, 10 ноября 2024 года.
Обращаем Ваше внимание, что на момент обращения к работодателю вакансия № 28079928 может быть уже занята. Администрация сайта Работа в Москве и Московской области (МО, Подмосковье) приносит извинения за доставленные неудобства.
- Ответственность за правильную эксплуатацию не менее чем одной единицы аналитического сектора 3Д-микроскопии и всего дополнительное оборудование к ней..
-
Контроль за исправным состоянием вверенного аналитического оборудования, ежедневное ведение Журнала состояния оборудования.
-
Контроль за наличием необходимых для работы на аналитическом оборудовании расходных материалов и реактивов, своевременная инициация их закупки.
-
Проведение научных исследований и разработок по отдельным разделам (этапам, заданиям) в качестве Исполнителя.
-
Участие в осуществлении сложных экспериментов и наблюдений, в рамках утвержденного ТЗ..
-
Выполнение вычислительных и графических работ, связанных с проводимыми исследованиями и экспериментами.
-
Изучение научно-технической литературы, отечественный и зарубежный опыт по тематике проводимых исследований.
-
Сбор, обработка, анализ и обобщение научно-технической информации, передовой отечественный и зарубежный опыт, результатов экспериментов и наблюдений в стандартный протокол исследовательских испытаний.
-
Разработка технологической карты сектора 3Д-микроскопии, описывающей методики проведения исследовательских испытаний на аналитическом оборудовании, за которое несет ответственность.
-
Проведение обучения конечных пользователей и Младших специалистов по применению аналитического оборудования, в рамках разработанных программ Базового курса обучения.
-
Выполнение отдельные служебные поручения руководства.
-
Оборудование:
1. Сканирующий просвечивающий электронный микроскоп FEI Teсnai G2 F20 S-TWlN
2. Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр PHI 5000 Versa Probe II
3. Графическая станция (моделирование, обработка 3D-изображений).